Turck Banner Italia, tra i principali fornitori di sensoristica, illuminatori e segnalatori industriali, sistemi bus e sicurezza, presenta le nuove barriere fotoelettriche di misura della serie EZ-Array, dotate di IO-Link 1.1.
I nuovi dispositivi, equipaggiati con ricevitore IO-Link con opzioni dei dati di processo ampliate, offrono esteso accesso a informazioni aggiuntive. La comunicazione IO-Link è un approccio conveniente per portare più segnali di misurazione su una rete Ethernet per comunicare informazioni di misurazione e diagnostica. La nuova versione 1.1 offre agli utenti l’accesso alle misurazioni attive del primo e ultimo raggio oscurato, ai singoli stati dei raggi o a tutte le modalità di misurazione attraverso i dati di processo.
Il trasferimento dei dati molto più veloce migliora la reattività del sistema. La versione 1.1 legge i dati dei parametri 8 volte più velocemente della versione precedente. Il supporto COM3 (230.4k Baud) per un trasferimento dati più veloce con master IO-Link compatibili sarà presto disponibile in tutti i modelli.
EZ-Array con IO-Link consente la sostituzione automatica per una rapida configurazione del dispositivo. Basta collegare un EZ-Array al master IO-Link e la configurazione verrà caricata automaticamente. La funzionalità del controller è integrata nel ricevitore, quindi la configurazione di base non richiede controller, software o PC.
Oltre ai modelli IO-Link, sono disponibili anche i dispositivi Modbus-RTU e RS-485. I raggi infrarossi ravvicinati rilevano piccoli oggetti fino a 5 mm di larghezza, la risoluzione dei bordi è di 2,5 mm. La portata del dispositivo è di 4 metri e le altezze vanno da 150 a 2400 mm.
Il software è di facile utilizzo ed è incluso per la configurazione avanzata tramite PC. Le opzioni di configurazione per la serie EZ-Array includono 14 modalità di misurazione, tre metodi di scansione, due uscite analogiche e due discrete e un’uscita seriale. La serie EZ Array trova applicazioni ad esempio nella guida di bordi e centri, nel controllo della tensione del loop, nel dimensionamento dei fori, nel conteggio delle parti e nel dimensionamento e profilatura del prodotto in tempo reale.
